涂層測(cè)厚儀測(cè)量有誤差，問(wèn)題找到了嗎?
點(diǎn)擊次數(shù)：3336 更新時(shí)間：2022-03-11
涂層測(cè)厚儀是一種可無(wú)損的測(cè)量磁性金屬基體（例如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層（如鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）的厚度及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層（琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）的厚度的檢測(cè)儀器。
然而
涂層測(cè)厚儀在使用過(guò)程中，往往會(huì)因?yàn)楦鞣N因素會(huì)導(dǎo)致其測(cè)量出現(xiàn)很大的誤差，包括：
1、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
2、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
3、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
8、附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感因此必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
9、磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
10、測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
11、測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)因此要保持壓力恒定。
鄭由軍
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